在《178:技術流失》一章中，橙子寫到:某國為了竊取中國的某項陶瓷工藝，以行騙的手段，索取了一些煙囪裡的灰塵，通過電子顯微鏡分析陶瓷的燒結工藝。這個故事是橙子某一次聽業內的朋友說起的，故事好像是發生在洛陽。　　對於這個故事的細節，作為文科生的橙子並不了解，寫書裡加以了虛構，出現若乾專業上的漏洞。對此，“zxz026”和“娜迪雅”兩位書友予以了善意的批評，在此將兩位書友的意見轉錄如下，供大家參考，以免大家受橙子誤導。

　　並對兩位書友表示衷心的感謝。

　　“zxz026”書友指出:

　　1、電鏡最主要的兩種是掃描電鏡(SEM)和透射電鏡(TEM)。

　　後者要求樣品製成薄片，灰塵顆粒是沒法測試的。

　　前者主要用於觀察固體形貌，可以觀察粉末，但也需要一定的量，一顆50微米的顆粒還是不夠的。雖然具體觀察時，視野中的顆粒可以遠比50微米更小，一樣可以看得清，但如果直接隻有1個50微米的顆粒，幾乎不可能製樣並在電鏡下找到樣品。我做的納米W粉，粒徑不過幾百納米，但還是要用一小挖耳杓那麽多的粉末製樣。

　　所以，日本人要一瓶當然夠了，小林說1個顆粒就可以卻不符合事實了。

　　2、現在的SEM自帶能譜掃描，可以知道有哪些元素，80年代初期，電鏡也遠不夠先進，我不太確定是否有能譜功能。

　　當然，配合X射線衍射(XRD)和X射線光電能譜(XPS)還是可以進行元素分析的，連元素價態都能知道，不過這屬於作者後面提及的“光譜分析”范疇的功能，不是電鏡本身的。

　　3材料表征對工藝製備有巨大幫助是無疑的，但一般隻能起到粗略分析和表征控制的作用，不能直接反推工藝，尤其是具體參數。

　　比如我們實驗室燒結鎢鈧海綿體，即使以當今的技術水平，老外也不可能看看SEM、做做XPS、甚至加上其他表面分析如AES等，就直接知道工藝――但他們能通過這個測試知道該做到什麽程度是好的，一個好的產品應該有怎樣的微觀結構。比如在電鏡裡看到晶粒大小是600nm，他就知道，原來要600nm的晶粒才行，但到底怎麽做到晶粒600nm，控制怎樣的工藝參數(比如燒結溫度是多少、保溫時間該多長等等)能做到，還是要考自己摸索。

　　當然，這個作用也是很明顯的。

　　最後表示，作者寫得很不錯了，作為一本涉及到諸多行業、非常考校功夫的作品，能大致靠譜，就是很了不起的。這些問題其實不太影響閱讀感受，讀者還是看故事的。

　　“娜迪雅”書友補充:

　　我也正想說這點，給樓主搶先了。

　　對一個顆粒一層層原位剝離現在是可以，但據我所知這是剛出來的新技術。

　　而如果隻是用電子探針，那麽隻能分析顆粒表面很薄一層的元素含量，體相的變化是不知道的。

　　光譜分析一顆顆粒恐怕不夠。

　　另外由表征倒推工藝作者說的太玄，我就是相關行業的，這種事有，但並不那麽容易。表征的結果畢竟是微觀的，做出的產品是宏觀的，將大小相差那麽多數量級的微觀和宏觀相關聯並不是簡單的事。

　　一點樓主已經說了，表征的結果隻能告訴你要做到什麽地步，但怎麽才能做到，這是一個問題。另外還有一點就是實際工作中往往並不見得知道那麽多表征結果中，到底哪個是關鍵的地方。

　　譬如樓主說了，電鏡觀察到晶粒是600nm，但是元素分析結果顆粒中Si含量XX、Al含量XX，某稀土含量幾個ppm，另外一個稀土含量幾個ppm。XRD分析顆粒中氧化物是出於一種特別的結晶態，等等等等。你知道哪個是決定產品質量的關鍵因素?

　　也許你會說，一個條件一個條件試過去好了，有的時候確實可以，但有的時候做個條件花的時間是很長的，一個個試並不現實。